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簡要描述：石灰石白云石高鈣石元素成分含量檢測(cè)儀X射線光譜儀在石灰石、白云石、高鈣石等礦石元素成分含量測(cè)試方面具有快速、無損、精確度高、基體效應(yīng)和顆粒效應(yīng)影響小、在線分析和多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)。這些優(yōu)點(diǎn)使得該儀器成為礦石元素成分含量測(cè)試的常用工具之一。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-11-09訪 問 量：1552產(chǎn)品分類
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石灰石白云石高鈣石元素成分含量檢測(cè)儀
X射線光譜儀可以應(yīng)用于石灰石、白云石、高鈣石等礦石元素成分含量測(cè)試。以下是相關(guān)介紹：
1. 工作原理：X射線光譜儀利用X射線照射樣品，激發(fā)出元素的特征X射線，這些X射線的波長或能量與元素的種類和含量有關(guān)。通過測(cè)量這些特征X射線的波長或能量，可以確定樣品中元素的種類和含量。
2. 樣品制備：對(duì)于石灰石、白云石、高鈣石等礦石樣品，需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)闹苽洌缙扑椤⒀心サ龋允蛊淠軌虮?/span>X射線照射并產(chǎn)生足夠的特征X射線。
3. 分析特點(diǎn)：X射線光譜儀具有快速、無損、準(zhǔn)確等特點(diǎn)。它可以同時(shí)分析多種元素，且分析精度高，適用于石灰石、白云石、高鈣石等礦石元素成分含量測(cè)試。
4. 應(yīng)用范圍：X射線光譜儀在地質(zhì)、冶金、環(huán)保等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。它可以用于分析巖石、礦物、土壤等樣品中的元素成分含量。
需要注意的是，對(duì)于具體的礦石樣品測(cè)試，還需要考慮樣品的產(chǎn)地、采集時(shí)間、保存方式等可能影響測(cè)試結(jié)果的因素。同時(shí)，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，也需要根據(jù)具體的儀器型號(hào)和操作規(guī)程進(jìn)行樣品制備和測(cè)試操作，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下詳細(xì)介紹：
X熒光光譜儀（臺(tái)式）：
技術(shù)規(guī)格
測(cè)量元素范圍 | 從鈉(Na)到鈾(U) |
測(cè)量濃度范圍 | ppm—99.99% (不同元素，分析范圍不同) |
測(cè)量對(duì)象狀態(tài) | 粉末、固體、液體 |
元素分析能力 | 一次性可測(cè)從鈉(Na)到鈾(U)之間幾十種元素 |
*分辨率 | 129eV±5eV |
**分析精度 | RSD≤0. 1% (國標(biāo)標(biāo)樣) |
分析時(shí)間 | 單次測(cè)試時(shí)間可調(diào) |
制冷方式 | 電制冷，無需任何耗材 |
大樣品腔尺寸 | 400mm x 340mm x 80mm |
抽真空樣品腔尺寸 | φ100mm×h75mm |
外觀尺寸 | 700mmx510 mmx336mm |
工作電源 | AC 220V ±5V 、50Hz |
工作環(huán)境 | 室內(nèi)溫度 15~30℃；相對(duì)濕度 ≤80% (不結(jié)露) |
整機(jī)重量 | 56KG |
性能特點(diǎn)
分析效率 | 速度快、精度好、效率高，采用自主研發(fā)的分析軟件能在 1- 120 秒內(nèi)同時(shí)完成從 11 鈉 (Na) 至 92 鈾 (U) 之間幾十種元素的 同步準(zhǔn)確分析 |
功能優(yōu)勢(shì) | 1. 外形設(shè)計(jì)：大方美觀、堅(jiān)固耐用、多重安全防護(hù)模式。 2. 準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)：準(zhǔn)直器+多組合濾光片，軟體自動(dòng)切換， 滿足各種測(cè)試應(yīng)用。 3. 采用自主研發(fā)的SES 信號(hào)處理系統(tǒng) (數(shù)字多道) ，有效提 高峰背比，讓測(cè)量更精準(zhǔn)。 4. 多維散熱系統(tǒng)：優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得 到更大提高，確保 X 射線源的運(yùn)行安全 5. 輻射安全系統(tǒng)：多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級(jí)別屬于 同類產(chǎn)品好級(jí) 6. 真空系統(tǒng)：選擇抽真空系統(tǒng)，優(yōu)化測(cè)試環(huán)境，提高鎂鋁硅 磷硫等輕元素的分析精度，大大擴(kuò)展分析儀的分 析能力。 |
7. 機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù)，確保射線源的安全可靠運(yùn) 行，有效延長其使用壽命，降低使用成本 | |
硬件優(yōu)勢(shì) | 8. 核心部件整套進(jìn)口 9. 探測(cè)器：原裝美國 Amptek 硅漂移 SDD 探頭，分辨率低 至 129eV±5eV ，能量線性和能量分辨率好，高峰背比。 10. X 射線 管 ： *大 功率 50W 、 管 電壓 5-50KV 、 管 電流 0- 1000uA；長壽命 X 射線管。 11. 高壓電源：*大功率 50 W、電壓 0 -50 KV、電流 0- 1000uA。 8 小時(shí)穩(wěn)定性≤0.05%。 12. 信號(hào)處理器：采用進(jìn)口信號(hào)處理器，適應(yīng)高分辨率和高計(jì) 數(shù)率， 自調(diào)放大倍數(shù)，*大道數(shù)： 4096。 |
軟件優(yōu)勢(shì) | 美國丹納赫和我司共同研發(fā)的 X 熒光分析軟件中文版，該軟 件融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論α系數(shù)法、線性擬合、二次曲線、強(qiáng) 度校正、含量校正等多種分析方法，全面保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確 性。 |
儀器配置
系統(tǒng)標(biāo)配 | 1. 數(shù)字多道型 SDD 探測(cè)器 2. X 射線源 3. 高壓電源 4. 性噪比電子線路系統(tǒng) 5. 光路增強(qiáng)系統(tǒng) 6. 8 準(zhǔn)直+5 濾光片 7. 數(shù)字多道分析器 8. 抽真空系統(tǒng) 9. 品牌噴墨打印機(jī) 10. 品牌計(jì)算機(jī) 11. X 熒光全元素分析軟件 12. 樣品杯、保險(xiǎn)絲 13. 光譜專用穩(wěn)壓電源 (選配) |
系統(tǒng)選配 | 1. 光譜專用研磨機(jī) (選配) 2. 光譜專用熔樣機(jī) (選配) 3. 光譜專用制粉機(jī) (選配) 4. 熔樣鉑金坩堝 (選配) 5. 光譜儀專用壓片機(jī) (選配) |
石灰石白云石高鈣石元素成分含量檢測(cè)儀
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