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        玻璃檢測儀器設備

        簡要描述:玻璃檢測儀器設備
        采用WdxAnalyzer V1工作站,人機對話的軟件界面、模塊化的操作按鈕,不同權限的操作員憑密碼登陸、輸出報告可選多種模式等特點。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:生產廠家
        • 更新時間:2025-05-16
        • 訪  問  量:2720

        產品分類

        Product classification
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        詳細介紹

        我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。

        玻璃檢測儀器設備

        產品說明

        U小型多道X射線熒光光譜儀可配置Si、Al、Fe、Ca、Mg、S、K、Na、Cl-九通道,預留1個可增加通道位置,同時分析10種元素。標準配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析,是大中型企業質量控制的理想選擇。

        針對需求滿足的解決方案

        建筑材料/水泥

        耐火材料/陶瓷

        冶金礦產/采礦

        金屬材料

        學術研究、教學

        玻璃、石墨

        土壤調查/元素分析

        工藝控制

        成分質量控制

        成分檢測

        檢驗設備

        成分指令控制

        產品特點

        1.1分鐘即可完成準確測試,換樣抽真空時間小于15秒

        2.下照式X射線檢測,*避免樣品破碎造成的儀器故障,提使用效率

        3.采用精度流氣密度穩定器(技術)

        4.標準配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析

        5.引入測試系統技術、測試的短期和長期穩定性。

        6.配備經驗系數法、理論影響系數法、基本參數法等定量分析方法

        7.測試精度遠優于GB/T176-2008對重現性的要求,輕松滿足行業需求

        產品功能

        具有遠程診斷功能說明:我們軟件集成了常用的DCS系統的通訊協議,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可與工廠的配料系統的控制中心或PLC進行數據交換,即可向配料系統傳送分析數據,也可傳送配比數據。實現在線數據分析、在線質量監控。

        具有技術的,快速,安全,性能可靠而實用的樣品裝卸系統

        搖臂式設計的樣品裝卸系統,完善的粉末保護方式,預真空室和限定位置機構,實現度重現性,**,快速穩定。光路設計示意圖,

        XRF色散方法是建立在X射線波動性基礎上,依據布拉格定律(2dsinθ=nλ)對樣品發射出的特征X射線及原級譜線的散射線進行分光,再將待測元素的特征X射線與基體中某些元素的次線射入探測器并將光信號轉換為電信號,經放大后,再通過模數轉換(ADC)將電信號轉換為數字信號,然后由脈沖度分析器篩除次線、晶體熒光等,通過數據處理將特征X射線強度轉換為濃度。

        連續72小時檢測Ca:Ka譜線的強度,達到Q<1.1,Si:Ka譜線的強度,達到Q<1.05, 其他譜線輕易就可達到Q<1.02,

        儀器采用WdxAnalyzer V1工作站,人機對話的軟件界面、模塊化的操作按鈕,不同權限的操作員憑密碼登陸、輸出報告可選多種模式等特點。

        性能指標

        典型白生料樣品的實測分析精度(60S),于GB/T176-2008對重現性的要求。

        氧化物

        SiO2

        Al2O3

        Fe2O3

        CaO

        MgO

        Na2O

        K2O

        SO3

        Clˉ

        分析譜線

        Si:Ka

        Al:Ka

        Fe:Ka

        Ca:Ka

        Mg:Ka

        Na:Ka

        K:Ka

        S:Ka

        Cl:Ka

        □n-1≤

        0.03

        0.02

        0.01

        0.035

        0.02

        0.02

        0.01

        0.01

        0.0007

        重現性(%)

        0.10

        0.06

        0.05

        0.15

        0.05

        0.05

        0.05

        0.05

        0.002

        GB/T176-2008 對重現性的要求(%)

        0.20

        0.2

        0.15

        0.25

        0.15

        0.05

        0.15

        0.15

        0.003

        玻璃檢測儀器設備

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