土壤有害元素測(cè)試儀

我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。

土壤有害元素測(cè)試儀

性能特點(diǎn)：
   現(xiàn)場(chǎng)分析快速準(zhǔn)確，幾十秒內(nèi)完成測(cè)試，并判定結(jié)果，大限度地節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用；

? 野外分析無(wú)需制備樣品，可直接在待測(cè)物表面進(jìn)行測(cè)定；

? 分析元素多：K、Ca、、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ag、Mo、Cd、Sn、Hf、Ta、W、Re、Bi、Sb、Pb、Au、Hg等。

? 圖形化界面，軟件操作靈活，譜圖直觀顯示，結(jié)果顯示明確；

? 軟件根據(jù)用戶設(shè)置多條工作曲線，并且可以根據(jù)測(cè)試要求編輯和建立新的曲線；

自帶GPS組件，實(shí)現(xiàn)野外采礦、勘測(cè)對(duì)所測(cè)樣品真實(shí)方位的準(zhǔn)確定位；

? 多種分析模式，包括“地質(zhì)土壤模式（ppm）"、“定性分析模式"；

? 可任意配備支持超大容量的SD存儲(chǔ)卡，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)不受限制；

? 儀器外形美觀、手持測(cè)樣手感舒適；

? 儀器簡(jiǎn)單易學(xué)，操作舒適，可視化程度；

? 具備自我保護(hù)功能，半小時(shí)以上誤操作則自動(dòng)關(guān)閉。

技術(shù)參數(shù)：
工作原理：XRF 利用X射線熒光光譜分析

分析范圍：硫（S)—鈾（U）

探 測(cè) 器：采用的Si-PIN X射線探測(cè)器，性能、分辨率，半導(dǎo)體電制冷

數(shù)據(jù)顯示：配備清晰、分辨率的PDA（個(gè)人數(shù)字助理），windows Ce操作系統(tǒng)，支持藍(lán)牙傳輸、各人數(shù)據(jù)處理、電子郵件發(fā)送

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：超大容量的SD存儲(chǔ)卡和SD讀卡器，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)計(jì)算機(jī)存檔與打印

電   源：兩塊鋰電池充滿電可連續(xù)工作不低于8小時(shí)

安全特性：PDA操作、軟件操作密碼保護(hù)，非授權(quán)人員不能使用

土壤有害元素測(cè)試儀