產(chǎn)品信息：

本儀器專門針對貴金屬測試，采用新的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。

應用領域：

貴金屬（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相關制品的生產(chǎn)、銷售、回收的檢測；

用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。

功能：

開放式工作曲線，可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)

安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標

測試操作簡單，實現(xiàn)傻瓜式操作模式

報告模板多樣化，適應各種測試需求

參數(shù)：

分析軟件：Ux-6280貴金屬分析軟件

分析元素種類：26種元素可同時分析

分析方法：基本參數(shù)法（定量）

分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素

測量范圍：ppm-100%

測量時間：100－300s

度：0.1%（常量相對誤差）

分辨率：149±5eV

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

功率：350W

外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

重量：約48Kg

工作環(huán)境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結露）

工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W

標準配置：

探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm²；Be窗厚度為1mil

壓電源：壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩(wěn)定性0.05%

X射線管：薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶）

清攝像頭裝置

定位裝置

自動開蓋裝置

X熒光光譜